跳到主要內容區

 

dee

410-2 前瞻記憶體特性與可靠度實驗室

發佈日期 : 2018-12-30

 

410-2前瞻記憶體特性與可靠度實驗室

Advanced Memory Characterization and Reliability Laboratory (AMCRL)

 

  •  
  •  
  •  
  •  
  •  
  •  
 
負責老師
王丁勇老師
簡介
本實驗室主要透過國家實驗研究院台灣半導體研究中心(TSRI)進行前瞻記憶體元件之芯片製作,並於室內建置完整的量測平台,專注於元件特性分析與可靠性評估。目前針對鐵電記憶體元件,已具備完善的測試能力,涵蓋IV、CV、PV、CF、Retention(保持力)、Cycling(耐受性)等多項關鍵檢測項目。

實驗室設備

  1. 雙通道脈搏波產生器(Agilent 81110A) : x1
  2. 低雜訊前置電流放大器(Stanford Research Systems SR570) : x1
  3. 精密型電源測量設備( Keysight  B2912B) : x1
  4. 不斷電系統(飛瑞系列C-1500RN1500VA On-line 不斷電系統/機架式) : x2
  5. 實驗用儀器架: x1
  6. 防震桌(含防干擾黑箱) : x1
  7. 8 x 8 陣列切換系統(Homemade 8x8 switching matrix): x1
課程應用
無
未來應用展望
"致力於下世代記憶元件研發,
同時積極開發具高度成本效益之鐵電元件專屬測試系統。"

 


 

瀏覽數: